高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板

高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板

F2923-NDT 為二維 CMOS X 射線平板探測器，具有高分辨率、 低噪聲、大面陣、高幀率和寬動態范圍等特點。綜合應用派登斯的 CMOS 圖像傳感器設計技術及 ADC 集成一體化方案，產品結構緊湊，技術性能優良。基于其可靠性高、 易于集成等特點，可有效降低在苛刻環境中、重負荷應用下 對成像系統的校準和維護要求。

 CMOS平板探測器有三款可以選擇：F1512-NDT，    F2923-NDT，     F3035-NDT

產品特點

    ? 精細像素    ? 圖像延遲小                 ? ADC 集成一體化結構    ? 快速的模式切換 

    ? 極低噪聲    ? 穩定的數據偏移校正    ? 極寬動態范圍               ? 低功耗 

    ? 高幀率       ? 快速的網絡數據接口    ? 抗輻照

產品應用

    ? 無損檢測      ? 高等院校      ? 研究院所      ? 材料科學      ? 航空航天

高分辨率平板探測器 X 射線 CMOS成像板

上海玖橫儀器有限公司是一家由多名無損檢測技術銷售團隊組織成立，專業從事無損檢測技術設備的研發、銷售及技術服務于一體的企業。主要產品有：電磁超聲高溫腐蝕檢測儀（高溫腐蝕儀）、電磁超聲探傷儀、超聲波探傷儀、超聲波測厚儀等檢測儀器；同時代理國內國外超聲波成像系統（TOFD、相控陣、水浸 C 掃描）和射線成像系統（CR/DR/實時成像系統）、汽車點焊分析儀、內窺鏡檢測設備及自動化檢測設備等。